便攜式相控陣探傷儀OmniScan SX 探傷儀-奧林巴斯
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便攜式相控陣探傷儀OmniScan-SX-探傷儀-奧林巴斯

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SX PA 配備16:64PR相控陣單元,適用于脈沖回波、一發一收或TOFD(衍射時差)檢測。
SX UT 僅具有UT通道,適合傳統的超聲波檢測方法。
人機交互體驗 8.4英寸觸摸屏提供了全屏模式選項,增強了可視性,并簡化了菜單操作,包括縮放、閘門調節等功能。
高性價比 對于預算有限但需要高質量檢測結果的應用場景,OmniScan SX提供了極高的性價比。
便攜性 相較于前代產品,重量減輕33%,體積減小50%,極大地提升了現場工作的便捷性。
商品介紹
輕巧便攜,高性能檢測解決方案
OmniScan SX是一款專為滿足各種工業檢測需求而設計的經濟實惠的無損檢測設備,它集成了相控陣(PA)和傳統超聲波(UT)技術,提供了一個直觀易用的界面,使得操作人員能夠快速準確地完成復雜的檢測任務。
主要型號
SX PA:配備16:64PR相控陣單元,適用于脈沖回波、一發一收或TOFD(衍射時差)檢測。
SX UT:僅具有UT通道,適合傳統的超聲波檢測方法。
核心特點與優勢
人機交互體驗:8.4英寸觸摸屏提供了全屏模式選項,增強了可視性,并簡化了菜單操作,包括縮放、閘門調節等功能。
高性價比:對于預算有限但需要高質量檢測結果的應用場景,OmniScan SX提供了極高的性價比。
便攜性:相較于前代產品,重量減輕33%,體積減小50%,極大地提升了現場工作的便捷性。
強大的兼容性:完全兼容奧林巴斯的各種掃查器、探頭及附件,以及NDT SetupBuilder和OmniPC軟件,形成完整的檢測流程。
軟件功能增強
新增導出C掃描、端視圖組融合、交錯功能等好用特性。
分析模式下的衰減增益功能,滾動布局便于數據解讀。
提供更多交互式菜單以提高訪問效率。
應用領域
焊縫檢測:支持多種焊接標準,如ASME、API等,提供高速探測和缺陷指示判讀功能。
腐蝕成像:通過相控陣技術實現大面積覆蓋和高分辨率成像,特別適合于復雜幾何形狀材料的檢測。
復合材料檢測:利用其靈活配置,可以有效識別分層、脫粘等多種缺陷類型。
配套工具
NDT SetupBuilder:用于創建和模擬檢測方案,優化聲束路徑并直接導入至OmniScan SX中。
OmniPC:基于PC的數據分析軟件,提供與OmniScan相同的分析和報告工具,增加靈活性。
OmniScan SX憑借其緊湊的設計、友好的用戶界面以及廣泛的適用性,成為從制造到維護各個階段的理想選擇,無論是進行焊縫檢查還是復雜的材料評估,這款儀器都能提供可靠的支持,確保資產的完整性。
便攜式相控陣探傷儀:https://industrial.evidentscientific.com.cn/ja/ut-flaw/

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公司名稱 儀景通光學科技(上海)有限公司
聯系賣家 曾先生
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