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OmniScan X3系列作為工業無損檢測領域的產品，集成了先進的全聚焦方式（TFM）和高性能相控陣（PA）技術，為用戶提供了一套完整的檢測解決方案。該系列產品不僅在硬件性能上實現了突破，在軟件功能與用戶體驗方面也進行了深度優化。

硬件性能升級

OmniScan X3 64型號探傷儀延續了經典的便攜式設計，同時搭載了更強大的電子架構。其支持的64晶片相控陣探頭可實現128晶片孔徑的TFM檢測能力，顯著提升了對厚壁材料和高衰減性材料的檢測效果。相較于傳統32通道設備，X3 64在使用5L64-A32探頭時，焦點分辨率提升達100%，使相鄰缺陷的識別更加精準。新一代電子平臺將TFM圖像采集速度提升至原有產品的4倍，配合128晶片探頭（3.5L128-I4），信噪比改善率達80%。

成像技術應用

全聚焦方式（TFM）技術通過多角度動態聚焦，實現了微小缺陷的高精度檢測。配套的聲學影響圖（AIM）工具采用實時仿真算法，可直觀顯示聲波覆蓋范圍及靈敏度分布，使掃查路徑規劃準確率提升60%。新集成的相位相干成像（PCI）技術，在MXU 5.10固件版本中進一步優化了噪聲抑制能力，特別適用于復合材料等復雜工況的檢測。

智能化工作流程

設備內置的校準系統可在5分鐘內完成多組參數校驗，效率較傳統方法提升3倍。針對不同應用場景提供四款配置型號：

16:64PR基礎型：適用于腐蝕監測、管道檢測

16:128PR標準型：滿足風力葉片、復合材料檢測需求

32:128PR增強型：專攻奧氏體焊縫等特殊材質

64:128PR旗艦型：應對高溫氫致腐蝕等極端工況

各型號均支持多8個檢測組設置，其中TFM模式可同時運行4組，配合雙晶探頭自動配置功能，使檢測準備時間縮短40%。

數字化協作體系

X3遠程協作服務（RCS）構建了完整的數字化工作流，支持：

實時屏幕共享與設備控制

多方視頻會議系統

在線培訓與專家指導 結合1TB大容量存儲與云數據管理，實現檢測數據全生命周期管理。操作界面繼承經典OmniScan風格，新用戶培訓周期縮短至3天即可獨立操作。

技術參數亮點

頻率范圍擴展至0.2-26.5MHz

脈沖電壓支持160Vpp雙極輸出

A掃描同步處理與TCG校正一體化

支持800%波幅動態范圍

OmniScan X3系列通過技術重新定義了相控陣檢測的標準，其模塊化設計可適配從常規管道檢測到風電復合材料等多樣化應用場景。隨著工業4.0的推進，該系列設備正在成為智能無損檢測領域的重要技術平臺。

超聲相控陣無損檢測：https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/ndt-tutorials/intro/ut/