面議 / 臺
博微BW-IFSM/ITSM 半導體浪涌測試系統
陜西博微電通科技有限責任公司
第2年
陜西省西安市未央區
199 / 套
ITC57300動態測試儀替代品天光測控IGBT動態參數測試
西安天光測控技術有限公司
第7年
陜西省西安市雁塔區
面議 / 套
半導體高精度自動溫度實驗系統(博微BW-AH-5520)
晶體管光耦參數測試儀雙功能版(博微BW-3010B)
半導體分立器件測試系統（博微BW-4022A）
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