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貼片陶瓷電容系列產品被稱為非溫度補償性元件，即在不同的工作環境下，電容量會有比較顯著的變化，在不同的工作環境下，電容標稱值與實際容值之間的差異。例如，在40℃的測試容量將比25℃的測試容量低了接近20%。由此可見，在外部環境溫度比較高的情況下，電容容值的測試值就會顯得偏低。

我們通常建議放置在20℃的環境下一段時間，使材料處于穩定的測試環境下在進行容值測試。

   貼片陶瓷電容產品材料老化現象

   材料老化是指電容的容值隨著時間降低的現象，這再所有以鐵電系材料做介電質的材料產品中均有發生，是一種自然的不可避免的現象。原因是因為內部晶體結構隨溫度和時間產生了變化導致了容值的下降，屬于可逆現象。當對老化的材料施加高于材料居里溫度段時間后（建議進行容值恢復所使用之條件為150℃/1hour），當環境溫度恢復到常溫后（常溫25℃下放置24小時）,材料的分子結構將會回到原始的狀態。材料將由此開始老化的又一個循環，貼片電容的容值將恢復到正常規格之內。

   用以上方式驗證，把測試容量偏低的電容器浸在錫爐或者回流焊后，再進行測試，容值會恢復到正常范圍之間。

貼片鋁電解電容器失效的因素

說到貼片鋁電解電容失效的因素，讓人感到時間是了解到貼片鋁電解電容失效因素是貼片鋁電解電容在工作的時候，溫度上升，里面的電解液變成蒸汽揮發掉。

 有損耗，就會有耗盡，貼片鋁電解電容也是會有這種結局的。

 損耗上升與容量下降是息息相關的，他它們的造成因素是相似的

 原因有兩個方面首先：廠家偷工減料，電解液不足，或電解液的質量存在缺陷。

 第二：施加過電壓，紋波電流過大，施加反向電壓，頻繁充放電，施加交流電，使用溫度過高。使用時間長。

我們可以通過貼片鋁電解電容的陽極箔容量是否減少，陰極箔容量是否減少，電解液干涸（主要原因）。

 氧化膜劣化，氯離子的侵入,原因：制造方面，氧化膜的缺陷，使用方面，施加過電壓，紋波電流過大，施加反向電壓，頻繁充放電，施加交流電，使用溫度過高，長時間使用，使用含有鹵素的洗凈劑，粘接劑的使用，涂層劑的使用。這些都是對貼片鋁電解電容器造成一定的影響，使得在工作中的失效率。

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繞線電阻絕緣骨架是由陶瓷、塑料、涂覆絕緣層的金屬等材料制成管形、扁形等各種形狀。

 電阻絲在骨架上根據需要可以繞制一層，也可繞制多層，或采用無感繞法等。繞線電阻器是用電阻絲繞在絕緣骨架上構成的。

 電阻絲一般采用具有一定電阻率的鎳鉻、錳銅等合金制成。

 繞線電阻數值精，從理論上說，除非是做充電器輸出電壓基準外，一般的充電器都不用線繞電阻。

否則會導致自激，而影響震蕩頻率，從而使輸出波動較大，只有低電壓端的采樣基準電路可能會用繞線電阻。

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