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雙膜厚計8500 Basic/Premium 

●由于易于分離傳感器和狹窄區域的測量膜厚儀

●電磁式和渦流式通用的測量范圍：0?5000μm

●數據存儲13000點（高級）

●統計計算功能本儀器是與厚膜涂裝的測定和曲率面的測定對應的膜厚計。因為探頭可以拆裝，所以在測量手難以觸及的狹窄部位時，或者從各種角度按下探測時，可以進行順暢的測量。

規格句法

測定方式導電率式

測量對象金屬上的絕緣涂層

測量范圍0.5～40μm（其中，比重為1時）

請咨詢測量精度

用于探測曲面測量

顯示方法模擬

電源AC100V（50/60Hz）

尺寸?重量190（W）×210（D）×100（H）mm、1.7kg

選配平面測量用探針

未乾燥塗膜厚測定ゲージ「ウェットゲージ」

薄膜厚測定器「ストランドゲージ」

デュアルタイプ膜厚計エルニクス8500 Basic/Premium 

マルチ測定システム フィッシャースコープMMS PC2

デュアルタイプ膜厚計デュアルスコープFMP100 

電磁膜厚計デルタスコープFMP30 

渦電流膜厚計イソスコープFMP30 

デュアルタイプ膜厚計デュアルスコープMP0R-USB

デュアルタイプ膜厚計デュアルスコープMP0R-FP

油膜塗布量測定器マイクロダームBTF

ガラス上膜厚測定器マイクロダームHH-3Pm

膜厚計測定スタンドLW-990

プリンタVZ-330

データ管理ソフトウェア「データロガー KDL-01」

データ管理ソフトウェア「データロガー LDL-01/-02/-03」

膜厚計データ管理ソフトウェアMcWAVEシリーズ

膜厚計データ管理ソフトウェアMulti PROP