鍍層測厚儀XTD-200 微小樣品膜厚分析
鍍層測厚儀XTD-200 微小樣品膜厚分析
鍍層測厚儀XTD-200 微小樣品膜厚分析
鍍層測厚儀XTD-200 微小樣品膜厚分析

鍍層測厚儀XTD-200-微小樣品膜厚分析

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商品參數
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品牌: ELITE
外形尺寸: 550mm*480mm*470mm(長*寬*高)
重量: 45KG
屏幕色彩: 彩色
質量認證: FCC
類型: 鍍層測厚儀
電壓: 220v
產地: 深圳
測量方法: X射線熒光光譜
適用范圍: 電鍍層涂鍍層
測量面積: 最小0.002mm2
鍍層分析: 23層鍍層24種元素
儀器優勢: 同元素不同層分析
儀器特點: 可變焦對焦
商品介紹

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   儀器優點:

    1. 分析精度極高

    2. 分析范圍廣泛

    3. 微區精準定位

    4. 操作簡單快捷

    5. 結果可靠精準

    6. 領先行業標準

    性能優勢:

    1.先進的EFP算法:多層多元素、各種元素及有機物,甚至有同種元素在不同層也可精準測量。

    2.上照式設計:實現可對超大工件進行快、準、穩高效率測量。

    3.自動對焦:高低大小樣品可快速清晰對焦。

    4.變焦裝置算法:可對最大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測。

    5.小面積測量:最小測量面積0.002mm2

    6.大行程移動平臺:手動XY滑臺100*150mm,自動XY平臺200*200mm.

結構設計:

    一六儀器研制的測厚儀獨特的光路交換裝置,讓X射線和可見光攝像同一垂直線,達到視覺與測試定位一體,且X光擴散度極小;與EFP軟件配合達到對焦、變焦雙焦功能,實現高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差,同時特征X射線可以穿透測試更厚的表層。

    獨創EFP算法:

    采用Fp算法的后一代全新核心算法--理論Alpha系數法,基于熒光X射線激發的基本原理,從理論上計算出樣品中每個元素的一次和二次特征X射線的熒光強度,在基于此計算Lachance綜合校正系數,然后使用這些理論a系數去校正元素間的吸收增強效應。

    只需少數標樣來校正儀器因子,可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬以及有機物層。

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公司名稱 深圳南山區美程精密儀器商行
聯系賣家 楊經理
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地址 廣東省深圳市