
鍍層測厚儀XTD-200-微小樣品膜厚分析
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儀器優點:
1. 分析精度極高
2. 分析范圍廣泛
3. 微區精準定位
4. 操作簡單快捷
5. 結果可靠精準
6. 領先行業標準
性能優勢:
1.先進的EFP算法:多層多元素、各種元素及有機物,甚至有同種元素在不同層也可精準測量。
2.上照式設計:實現可對超大工件進行快、準、穩高效率測量。
3.自動對焦:高低大小樣品可快速清晰對焦。
4.變焦裝置算法:可對最大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測。
5.小面積測量:最小測量面積0.002mm2
6.大行程移動平臺:手動XY滑臺100*150mm,自動XY平臺200*200mm.
結構設計:
一六儀器研制的測厚儀獨特的光路交換裝置,讓X射線和可見光攝像同一垂直線,達到視覺與測試定位一體,且X光擴散度極小;與EFP軟件配合達到對焦、變焦雙焦功能,實現高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差,同時特征X射線可以穿透測試更厚的表層。
獨創EFP算法:
采用Fp算法的后一代全新核心算法--理論Alpha系數法,基于熒光X射線激發的基本原理,從理論上計算出樣品中每個元素的一次和二次特征X射線的熒光強度,在基于此計算Lachance綜合校正系數,然后使用這些理論a系數去校正元素間的吸收增強效應。
只需少數標樣來校正儀器因子,可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬以及有機物層。