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Semilab-SE-2000型全光譜橢偏儀
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￥1000000.00
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店鋪主推品 熱銷潛力款
聯系人 劉峰 經理
钳钻钸钹钳钻钴钸钶钴钴
發貨地 上海市虹口區
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商品參數
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商品介紹
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聯系方式
品牌 Semilab
光譜范圍 193nm-25um
樣品臺 標準200mm，300mm可選
入射角 20-90度 自動變角
厚度精度 < 0.5nm
折射率精度 < 0.005
是否進口 是
原產國 匈牙利
用途 科研/工業
數據庫 定期免費升級
商品介紹
SE-2000型全光譜橢偏測試平臺基于橢圓偏振測試技術，通過樣品光學模型的建立，計算出單層或多層薄膜結構的厚度、折射率和消光系數，實現精確、快速、穩定的寬光譜橢偏測試。
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SE-2000光譜橢偏儀是針對產線和實驗室推出的多功能高速測試平臺測試平臺。模塊化的設計，可選配300mm樣品臺或350*450mm平板樣品臺，Robot上片系統，圖形識別系統和數據通信系統，實現高速在線監控。在測試功能方面，可自由組合多種從190nm深紫外光譜至2400nm近紅外光譜的探測器，并可拓展FTIR紅外光譜測試模組、渦電流法非接觸式或4PP接觸式方塊電阻測試模組、Mueller Matrix各項異性材料測試模組、Raman結晶率測試模組、電子遷移率表征模組、LBIC光誘導電流測試模組、反射干涉測試模組等多種功能，使SE-2000成為光學和電學特性表征綜合測試系統。 |
產品特點
| 業界第一家光譜型橢偏儀測試設備廠商 |
| 業界標準測試機構定標設備，參與發布中華人民共和國橢圓偏振測試技術標準 |
| 業界最寬測試光譜范圍，選配190nm-25um，可自動切換快速探測模式和高精度探測模式 |
| 配置實時對焦傳感器，實現高速測量 |
| 選配Robot上片系統，圖形識別系統和數據通信系統，實現在線監控 |
| 獨特的樣品臺結構設計，優化固定大尺寸的柔性材料 |
| 模塊化設計，可綜合監控樣品光學和電學特性 |
| 定期免費升級材料數據庫 |
| 開放光學模型擬合分析過程，方便用戶優化測試菜單 |
主要應用
| 光伏行業 |
| 半導體行業 |
| 平板顯示行業 |
| 光電行業 |
主要技術指標
| 最大樣品尺寸： 300mm |
| 厚度測量范圍：0.01nm-50um |
| 厚度測試精度： < 0.5nm |
| 折射率測試精度：< 0.005 |
聯系方式
公司名稱 納瑟(上海)納米科技有限公司
聯系賣家 劉峰
電話 钺钹钳-钼钼钳钹钵钸钴钻
手機 钳钻钸钹钳钻钴钸钶钴钴
地址 上海市虹口區
劉峰 經理
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