半導(dǎo)體特性測試儀

（ST-DC2000_X 系列）

   可測試 19大類27分類 的大中小功率的半導(dǎo)體分立器件及模塊的靜態(tài)直流參數(shù)，（測試范圍包括Si（硅）/SiC（碳化硅）/GaN（氮化鎵）材料的IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件）高壓源2000V ，大電流源 50~1250A，分辨率最高至1mV / 10pA

支持曲線掃描圖示功能，029-87309001/垂詢

一、 產(chǎn)品介紹

半導(dǎo)體特性測試儀是我公司研發(fā)生產(chǎn)的一款經(jīng)典產(chǎn)品，擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條點擊即可完成測試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測試插座，自動補償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。面板顯示裝置可及時顯示系統(tǒng)的各種工作狀態(tài)和測試結(jié)果,前面板的功能按鍵方便了系統(tǒng)操作。通過功能按鍵，系統(tǒng)可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。

曲線追蹤儀（晶體管圖示儀）功能則是利用高速ATE測試步驟逐點生成曲線，可快速而準(zhǔn)確地生成精確的數(shù)據(jù)點。數(shù)據(jù)增量是可編程的線性或?qū)?shù)，典型的每步測試時間為6到20ms。一個兩百條數(shù)據(jù)點曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFET RDSvs. VGS 等曲線數(shù)據(jù)。此外， 針對多條曲線，設(shè)備可以根據(jù)每條曲線的數(shù)據(jù)運行并將所獲數(shù)據(jù)自動發(fā)送到一個單獨的 Excel 工作表。系統(tǒng)能夠更快，更簡潔的創(chuàng)建曲線（單擊，雙擊，選擇輸入菜單，單擊）。就是這么簡單。

支持在單個 DUT 上運行高達 10 條不同曲線的能力，在運行過程中，每個圖表都是可視的，每個數(shù)據(jù)集都被加載到一個被命名的 Excel 工作表中。系統(tǒng)運行速度快，可進行數(shù)據(jù)記錄，提供更高級的數(shù)據(jù)工具箱，能夠運行多條曲線并自動排序，自動將數(shù)據(jù)存入 Excel 表格，具有縮放功能，光標(biāo)重新運行功能以及其他許多優(yōu)點。

半導(dǎo)體特性測試儀提供與機械手、探針臺、電腦的連接口，可以支持各種不同輔助設(shè)備的相互連接使用。

二、 產(chǎn)品應(yīng)用

應(yīng)用領(lǐng)域

軍工院所、高校、半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數(shù)控、電焊機、白色家電、新能源汽車、軌道機車等所有的半導(dǎo)體器件應(yīng)用產(chǎn)業(yè)鏈 ……

主要用途

1) 測試分析（功率器件研發(fā)設(shè)計階段的初始測試）

2) 失效分析（對失效器件進行測試，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設(shè)計和使用過程提出改善方案 ）

3) 選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進行分類配對）

4) 來料檢驗（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）

5) 量產(chǎn)測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設(shè)備，實現(xiàn)規(guī)模化、自動化測試）

三、  產(chǎn)品特點

1) 測試范圍廣（通測19大類，27分類半導(dǎo)體器件，覆蓋市面上常見的所有分立器件）

2) 升級擴展性強，通過選件可提高電壓電流，和增加測試品種范圍

3) 采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標(biāo)規(guī)定的300us

4) 被測器件引腿接觸自動判斷功能，遇到器件接觸不良時系統(tǒng)自動停止測試, 保證被測器件不受損壞

5) 真正的動態(tài)跨導(dǎo)測試。（主流的直流方法測動態(tài)跨導(dǎo) ，其結(jié)果與器件實際值偏差很大）

6) 系統(tǒng)故障在線判斷修復(fù)能力，便于應(yīng)急處理排障

7) 二極管極性自動判別功能，無需人工操作

8) IV 曲線追蹤掃描及顯示 / 局部放大

9) 程序保護最大電流/電壓,以防損壞

10) 具有品種繁多的IV曲線

11) 可編程的數(shù)據(jù)點對應(yīng)

12) 增加線性或?qū)?shù)

13) 可編程延遲時間可減少器件發(fā)熱

14) 保存和重新導(dǎo)入入口程序

15) 保存和導(dǎo)入之前捕獲圖象

16) 曲線圖以及測試數(shù)據(jù)自動保存為EXCEL和TXT文本格式；

17) 半導(dǎo)體特性測試儀支持電壓電流階梯升級至2000V,1250A

四、 測試種類及參數(shù)

1)     IGBT

ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS

2) MOSFET / MOS場效應(yīng)管

IDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS

3) J-FET / J型場效應(yīng)管

IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF

4) 晶體管（NPN/PNP）

ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF

5) DIODE / 二極管

IR；BVR ；VF

6) ZENER / 穩(wěn)壓、齊納二極管

IR；BVZ；VF；ZZ

7) DIAC / 雙向觸發(fā)二極管

VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,

8) OPTO-COUPLER / 光電耦合

ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode)

9) RELAY / 繼電器

RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME

10) TRIAC / 雙向可控硅

VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-

11) SCR / 可控硅

IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH

12) STS / 硅觸發(fā)可控硅

IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；VPK-；VGSW+；VGSW-

13) DARLINTON / 達林頓陣列

ICBO；ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES；BVCBO；BVEBO；hFE；VCESAT；VBESAT；VBEON

14) REGULATOR / 三端穩(wěn)壓器

Vout；Iin；

15) OPTO-SWITCH / 光電開關(guān)

ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF

16) OPTO-LOGIC / 光電邏輯

IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF

17) MOV / 金屬氧化物壓變電阻

ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ；

18) SSOVP / 固態(tài)過壓保護器

ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ-

19) VARISTOR / 壓變電阻

ID+； ID-；VC+ ；VC-

展望未來，15596668116王生，公司將全力發(fā)揮自身技術(shù)優(yōu)勢，為客戶提供全方位專家級的技術(shù)支持以及更多的經(jīng)典產(chǎn)品。

半導(dǎo)體特性測試儀作為一款經(jīng)典產(chǎn)品，歡迎各位來電垂詢；

2020.05.08/葉