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白光干涉儀是一種非常實用的光學測量工具，建立在干涉儀原理的基礎上。它適用于寬波長范圍，具有高精度和廣泛的應用范圍，可以用于各種光學測量，如長度、厚度、折射率、曲面形狀等測量。

工作原理：

白光干涉儀利用光波的干涉現象來進行光學測量。儀器中，將白色光源分成兩個平行光束，由反射鏡反射后再次匯聚成一束光。這束光照在了一個透明的薄膜上，透過薄膜的光波因路程不同而產生了相位差，再次匯聚到第二個反射鏡上。第二個反射鏡將光束反射回來，當兩束光波再次匯聚時，產生干涉現象。這種干涉現象是由于兩束光波的波長相同但相位不同所產生的，形成了明暗條紋。

白光干涉儀使用方法：

1.準備工作：要使用白光干涉儀，需要將儀器放置在平穩的地方，并確保周圍環境是相對穩定的，避免空氣流動和溫度變化等因素的影響。接下來，將待測樣品放置在專用支架上，并將支架放在儀器的電源裝置上。

2.調節光源：打開儀器的電源，并按照說明書中的步驟來調節光源的亮度、焦距和聚散程度，使得光線能夠均勻地照射在樣品表面。

3.調節測試參數：可以根據需要來選擇測量的參數，例如表面形狀、曲率半徑等。在調節參數之前，需要進行背景校正，以確保測量結果的準確性。

4.進行測量：在校準完畢以后，可以用本儀器來進行測量了。按照說明書中的操作步驟來將樣品置于測量位置，然后調節光源和參數，即可得到測量結果。注意，在進行測量的時候需要保持穩定，避免產生振動和沖擊。

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