
博曼-Bowman-B系列高精度鍍層測量系統(tǒng)-鍍層測繪
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產(chǎn)品描述:
美國博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析,以及電鍍液分析。
Bowman BA-100 Optics 機(jī)型采用業(yè)界領(lǐng)先的多孔毛細(xì)管光學(xué)聚焦裝置,有效縮小測量點斑點的同時,可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強(qiáng)度。
Bowman BA-100 Optics 機(jī)型配備大面積的SDD(硅漂移探測器),有效拓展元素分析范圍,適應(yīng)最嚴(yán)格的微區(qū)、超薄鍍層,以及痕量元素分析需求。
優(yōu)秀的測試性能、突出的微區(qū)測量能力,Bowman BA-100 Optics機(jī)型是研究開發(fā)、質(zhì)量管控的XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。
穩(wěn)定的X射線管
● 微聚焦50瓦M(jìn)o靶射線管(其它靶材可選); 小于100um的測量斑點
● 射線出射點預(yù)置于射線管Be窗正中央
● 長壽命的射線管燈絲
● 獨有的預(yù)熱和ISO溫度適應(yīng)程序
多毛細(xì)管聚焦光學(xué)結(jié)構(gòu)
● 顯著提高X射線信號強(qiáng)度
● 獲得較準(zhǔn)直器機(jī)型數(shù)倍乃至數(shù)十倍的信號強(qiáng)度
● 小于100um直徑的測量斑點
● 經(jīng)過驗證,接近完美的測量精度
應(yīng)用領(lǐng)域:
常見的鍍層應(yīng)用:
PCB行業(yè)
Au/Pd/Ni/Cu/PCB
引線框架
Ag/Cu
Au/Pd/Ni/CuFe
半導(dǎo)體行業(yè)
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材
線材
Sn/Cu
珠寶、貴金屬
10,14,18Kt
元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等
美國博曼高性能XRF鍍層測厚儀
三十余年深耕鍍層測厚事業(yè)經(jīng)歷不斷創(chuàng)新、獲得廣泛好評
較為廣泛的鍍層厚度測量范圍(可對13號鋁元素到92號鈾元素進(jìn)行高精度測量分析)