無源晶振稱為石英晶體諧振器，其參數很多。較簡易的方法，可以搭載一個振蕩電路，用頻率計測量頻率，并替代電阻法，等效得出晶振諧振電阻。并用電容表直接測量晶振靜態電容。但由于振蕩槽路不平衡，較難測出準確數值。
用阻抗計測量。可以較容易測量到Fs、Rr、C0、FL、Ts、CL等參數值，并可通過計算得出其它相關參數。缺點阻抗計一般數度有限，頻率值一般誤差在5ppm左右，其支架電感的嚴重影響，使串聯諧振頻率相位移較大，同時又干擾正確測量負載諧振頻率。另外，其測量有一定的局限性，只能測量質量因數大于60以上的晶振，也不能進行功率掃描和寄生掃描。
網絡分析儀測量。分為專用和通用兩種。專用網絡分析儀設置簡單，可以進行全部晶振參數的測量，但不能它用。通用的網絡分析儀，設置較為繁雜，測量參數有限，但可以通過計算獲得。

 

晶振測試儀GDS-80系列

一、產品簡介

晶振測試儀GDS-80系列是高性價比的晶振測試系統，采用網絡分析技術，實現智能化測量，符合IEC-444標準。測量頻率范圍10KHz-200KHz,1MHz-200MHz，附USB接口進行數據通迅。

晶振測試儀GDS-80系列采用π型網絡零相位法實現串聯諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負載諧振頻率和負載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯諧振頻率Fs、負載諧振頻率FL、串聯諧振電阻Rs、負載諧振電阻RL、負載電容CL、動態電容C1、動態電感L1、品質因數Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數測量功能，負載電容在1-100P范圍內任意編程設置，從滿足不同負載電容的晶振測試，智能網絡分析技術運算克服了市場上晶振測試設備使用實體電容法測試精度差，無法測試電參數的缺點、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得更輕松。

依據標準：

SJ/Z 9154.1-87/ IEC 444-1(1989)《用π型網絡零相位法測量石英晶體元件參數第一部分：用π型網絡零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法》；

SJ/Z 9154.2-87/ IEC 444-2(1980)《用π型網絡零相位法測量石英晶體元件參數第二部分測量石英晶體元件動態電容的相位偏置法》；

GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶體元件參數的測量第11部分：采用自動網絡分析技術和誤差校正確定負載諧振頻率和有效負載電容的標準方法》 ；

二、主要技術指標    

1.      中心頻率范圍： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意設定

2.      掃描范圍：±1000ppm（默認±400ppm）  

3.      負載電容：1-100P 任意設定

4.      串聯諧振頻率Fs測量范圍：±1000ppm（默認±400ppm）  測量精度：±5ppm

5.      串聯諧振電阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）

10KHz-200KHz：10K-300K  （2±10%*R KΩ）

6.      負載電容CL測量范圍：1-200PF

7.      時基誤差：±1ppm 

8.      負載諧振頻率FL測量精度：±5ppm+時基誤差+0.5Pf*頻率牽引力Ts

9.      配件：插件式100歐π網絡測試座（標配），貼片式100歐π網絡測試座（選配），插件式表晶測試座（選配），貼片式表晶測試座（選配），2520/3225/5032/7050貼片晶振適配套件（選配），通信軟件（僅GDS-80P/S）。