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Hardware in the Loop Test (HIL test)：使用 dSPACE 的模擬器，您能夠快速且自動的測試您發(fā)展的 ECU 功能。這些測試不需要測試車手坐在駕駛座上就可以完成，而且任何錯誤狀況都能夠被重復(fù)產(chǎn)生。

Hardware in the Loop Test (HIL test)

當(dāng)產(chǎn)品化的步驟完成之后，必須進(jìn)一步的對如ECU(電子控制元件)等產(chǎn)品做嚴(yán)格的測試，確認(rèn)其安全性與效能如預(yù)期并且符合各種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的需求之后，才能正式的量產(chǎn)，否則產(chǎn)品本身潛在的不確定性將有可能造成難以想像、回收的災(zāi)難性結(jié)果。

市場競爭壓力之下，盡快的讓合格的產(chǎn)品問世將成為成功的竅門之一，但是由于傳統(tǒng)的實(shí)機(jī)測試或是實(shí)車測試曠日費(fèi)時且成本高昂，并且有許多難以突破的瓶頸，有鑒于此，快速的自動化測試成為一個趨勢，因?yàn)槭袌龅纳虣C(jī)是不等人的。

傳統(tǒng)的實(shí)車測試的缺點(diǎn)

在傳統(tǒng)的實(shí)車測試或是實(shí)機(jī)測試?yán)铮捎谒械某绦蚓鶠槭謩樱院茈y得到完整的測試結(jié)果，并且由于許多的行車狀況與故障的狀況都是很難用人工手動的方式去產(chǎn)生的，也幾乎不可能加以重復(fù)產(chǎn)生相同或類似的狀況來做測試，而如果把人為手動操作的錯誤考慮進(jìn)去，要得到可靠的數(shù)據(jù)非常困難，并且設(shè)備也幾乎不可能重復(fù)使用，因?yàn)閷?shí)車測試會對許多硬體設(shè)備和周邊造成破壞。

HIL 硬體在回路測試的解決方案

針對這樣的需求，dSAPCE提出了硬體在回路測試的解決方案，利用有能力作高速即時運(yùn)算的dSPACE Simulator來演算復(fù)雜的物理模形，并且整合真實(shí)的負(fù)載模擬與各種可能產(chǎn)生的故障訊號，完全取代真正的車輛或者是引擎等實(shí)體的系統(tǒng)，讓客戶把新開發(fā)的ECU等產(chǎn)品銜接在dSPACE的測試平臺上做詳盡的、自動化的測試之后，排除掉絕大多數(shù)的故障和潛在問題之后，才讓產(chǎn)品正式的排入生產(chǎn)線或是做正式的實(shí)車測試，大幅的降低可能的風(fēng)險，以及實(shí)車測試對于周邊設(shè)備的高度消耗與不可重復(fù)使用所造成的額外成本。

 

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dSPACE HIL 技術(shù)的特色與優(yōu)勢

能直接將MATLAB/Simulink/Stateflow的圖形介面程式轉(zhuǎn)換成能的C程式碼。

大幅降低實(shí)車測試的次數(shù)與需求，同時減低開發(fā)過程中雛型方案的嘗試次數(shù)，降低研發(fā)成本。

大幅提高產(chǎn)品的品質(zhì)與降低產(chǎn)品潛在不確定性造成之風(fēng)險。

高速演算的Real-Time Hardware和自動化測試軟體(AutomationDesk)所建置的環(huán)境，短時內(nèi)能做完善且系統(tǒng)化的測試，找出多數(shù)缺陷。

在回路測試設(shè)備所用的任何周邊軟體或是硬體均可重復(fù)使用，客戶可以用相同的設(shè)備和周邊做許多不同產(chǎn)品的測試。

周邊設(shè)備均為可擴(kuò)充與置換的模組化產(chǎn)品，可隨需求和研發(fā)的進(jìn)展擴(kuò)充，從一臺Simulator擴(kuò)充成Network Simulation Environment。