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動測量一直被稱為示波器測試測量的境界。傳統最直觀的抖動測量方法是利用余輝來查看波形的變化。后來演變為高等數學概率統計上的艱深問題，抖動測量結果準還是不準的問題就于是變得更加復雜。時鐘的特性可以用頻率計測量頻率的穩定度，用頻譜儀測量相噪，用示波器測量TIE抖動、周期抖動、cycle-cycle抖動。但是時域測量方法和頻域測量方法的原理分別是什么?TIE抖動和相噪抖動之間的關系到底是怎么推導的呢?抖動是衡量時鐘性能的重要指標，抖動一般定義為信號在某特定時刻相對于其理想位置的短期偏移。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不被原子內吸收，而是以光子形式放出，便產生X射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。射線熒光的能量或波長是特征性的，與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長，就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外，熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定量分析。



LED日光燈電源發熱到一定程度會導致燒壞，關于這個問題，也見到過有人在行業論壇發過貼討論過。本文將從芯片發熱、功率管發熱、工作頻率降頻、電感或者變壓器的選擇、LED電流大小等方面討論LED日光燈電源發熱燒壞MOS管技術。芯片發熱本次內容主要針對內置電源調制器的高壓驅動芯片。假如芯片消耗的電流為2mA，300V的電壓加在芯片上面，芯片的功耗為0.6W，當然會引起芯片的發熱。驅動芯片的電流來自于驅動功率MOS管的消耗，簡單的計算公式為I=cvf（考慮充電的電阻效益，實際I=2cvf，其中c為功率MOS管的cgs電容，v為功率管導通時的gate電壓，所以為了降低芯片的功耗，必須想辦法降低v和f.如果v和f不能改變，那么請想辦法將芯片的功耗分到芯片外的器件，注意不要引入額外的功耗。
上一講主要講述了到底是哪些原因引發了T/R組件測試性問題，它涉及到操作人員、被測T/R組件、測試儀器、測試程序和測試數據等多方面的問題，那怎么實現性增長呢？加強操作人員的防護和被測組件的屏蔽隔離（鐵布衫+金鐘罩）筆者經常在國內各大軍工院所中發現操作人員自身的防護觀念較為淡漠，普遍嫌麻煩。在大功率測試環境下，操作人員應該佩戴防護面具、眼鏡和工作服。科研人員不是義和團，你以為自己刀槍不入呢？老老實實穿上鐵布衫吧。

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