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SCHWARZBECK NNBM 8124-200

產品概覽

電源側帶有可切換的 50 歐姆負載和可切換的 1 微法拉電容器，帶有 B N C 母頭連接器的單路徑。

非對稱單路徑 AMN（人工電源網絡）NNBM 8124-200 的主要應用是在 0.1 – 150 MHz HF-VHF 范圍內測量車輛、飛機和船舶中的干擾電壓。NNBM 8124-200 還可用于大電流注入 (BCI) 測試或根據 ISO 7637-2 進行瞬態測量。阻抗特性根據 CISPR 16/25 ((5 μH + 1 Ω) || 50 Ω) 實現。連續額定電流為 200 A，短時間內可能超過 280 A。DUT 連接到前面板的翼形端子。電源端子位于后面板上。

NNBM 812x 系列網絡等效物是 V-LISN 型等效物，其阻抗符合 CISPR 16/25 和 MIL-STD-461F (5 μH + 1 Ω) ║50 Ω。通過使用可選的外部電容器 CAP 10，NNBM 8124 和 NNBM 8126 A 890 等效產品可用于 DO-160（高達 400 MHz）和 DEF-STAN-59 測量。

應用領域

根據 MIL-STD-461F、CISPR-16/25 及其區域對應標準測量汽車、飛機、船舶上的傳導干擾電壓。根據 ISO 7637-2 進行電流注入和脈沖噪聲測量

測試設備說明

干擾電壓測量 (CISPR 25)

電源在背面連接。必須接通 1μF 電容器以過濾外部干擾并提供最佳隔離值。DuT 連接到前面板。干擾電壓耦合到 BNC 連接器，在那里可以使用 EMI 接收器進行測量。為此，前面板上的開關必須切換到“測量”。在大多數情況下，每條線路必須使用一個 AMN（例如 + 和 -）。RF 參考地必須連接到兩個 GND 端子。一臺 NNBM 8124-200 的紅色端子必須連接到 + 線，另一臺 NNBM 8124-200 的紅色端子必須連接到 - 線。連接到被測線路的 LISN 必須切換到“Measure”。另一個必須通過將前面板開關切換到“50 Ω 端接”以 50 Ω 端接。

前后面板上的 4 毫米實驗室插孔和扁平鋁制支腳與 GND 端子電氣連接。

大電流注入抗擾度測試（BCI 測試）：

NNBM 8124-200 可用于大電流注入測試和使用鉗式電流表的干擾電壓測量。最大連續額定功率為 50 W（在 EuT 終端）。在 50 W 的連續功率輸入下，LISN 外殼可加熱至約 50 瓦。前面板溫度為 60°C。操作人員必須注意高溫。在任何情況下都不得覆蓋 NNBM 8124-200 的頂部和底部孔板！必須隨時提供足夠的空氣循環以避免 LISN 過熱。在運行的最初幾個小時內可能會出現涂層和絕緣材料的輕微氣味，注意不要吸入釋放的氣體。在高溫下運行數小時后氣味會消失。

在大電流注入測試期間，高場強和溫度可能會導致危險（火災危險！），因此這些測試只能由合格人員執行！必須考慮相關的安全預防措施！

通常開關位置“50 Ω 終端”用于 BCI 測試。在 EuT 端子處注入的功率在 50 Ω / 50 W 電阻器內轉換為熱量。請注意：如果 LISN 切換到“測量”，注入的射頻功率將從 EuT 終端直接路由到 BNC 輸出，沒有任何衰減。最終連接的射頻測量設備可能會損壞！

瞬態測量 (ISO 7637-2)

Weiterhin findet die NNBM 8124-200 Anwendung zur Messung von Transienten nach ISO 7637-2。Um Transienten nicht kurzzuschlie?en, muss der netzseitige 1μF Kondensator hierzu abgeschaltet werden！NNBM 8124-200 可用于根據 ISO 7637-2 測量瞬變。電源側的 1μF 電容器可能會縮短瞬變，因此必須為此關閉。

應用：

非對稱單路徑 AMN（人工電源網絡）NNBM 8124-200 的主要應用是在 0.1 – 150 MHz HF-VHF 范圍內測量車輛、飛機和船舶中的干擾電壓。NNBM 8124-200 還可用于大電流注入 (BCI) 測試或根據 ISO 7637-2 進行瞬態測量。阻抗特性根據 CISPR 16/25 ((5 μH + 1 Ω) || 50 Ω) 實現。

連續額定電流為 200 A，短時間內可能超過 280 A。EuT 連接到前面板的翼形端子。電源端子位于背面。

描述

網絡等效 (LISN) 提供多種功能：

從 AC/DC 網絡向被測設備提供電源電壓；

提取被測設備產生的干擾電壓；

為被測設備提供符合 EMC 標準的特定阻抗的射頻負載；

阻止（過濾）來自電源網絡的射頻干擾；

保護主電源免受被測設備產生的干擾。