掃描電子顯微鏡 SU3800

集優能、操作簡便性、多樣化功能于一身； 日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性，結合眾多的自動化功能，可發揮其高性能。SU3900標配多功能超大樣品倉，可應對大型樣品的觀察。

多功能超大樣品倉：標配多功能超大樣品倉，支持大型樣品分析

通過更換樣品提示，可防止由于與樣品的接觸而損壞設備或樣品：GUI上顯示更換樣品的操作步驟。可以避免因人為的誤操作而導致樣品污染或損壞。即使是難以檢測高度的凹凸不平的

樣品或者是超大樣品，也能夠輕松更換。

支持全視野移動,SEM MAP支持超大樣品的全視野觀察：與GUI聯合的SEM MAP，正是因為采用了樣品倉室導航相機，才得以實現廣角相機導航功能*。在SEM MAP上觀察目標位置，可以順利地移動到任意位置上。使用大視野相機導航系統拍攝的圖像或外部圖像，通過自由放大或縮小 圖像，可以將大視野的彩像切換到高倍率的SEM圖像。

覆蓋整個可觀察區域：相機導航系統通過圖像拼接功能可以實現大視野的SEM MAP觀察。觀察區域為直徑130mm（SU3800）/ 直徑200mm（SU3900），并且可以與樣品臺R一起聯動，移動到大型樣品的觀察區域。