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波恩儀器銷售德國Sentech紅外光譜橢偏儀SENDIRA 半導體檢測設備

外光譜橢偏儀具有大面積水平樣品臺，馬達驅動可變入射角度，支持樣品水平掃描，吹氮氣去水蒸氣保護紅外光學透鏡。提供新材料如有機物半導體, OLED和有機物光譜范圍內振動光譜的優良結果。提供復雜多層膜上化學、機械、電氣、光學信息。即可作為研發工具，也可作為質量控。

橢偏振動光譜

利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。

傅立葉紅外光譜儀FTIR完全適用

集成賽默飛世爾Thermo Fisher制造的型號FTIR iS50紅外光譜儀。它也適用于一般的振動光譜。

光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度，折射率，消光系數以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內是不透明的，現在也可以進行測量。同時可以分析材料的組成和大分子基團和分子鏈的走向。

SENTECH光譜橢偏儀SENDIRA是專門為紅外應用(FTIR)設計的。緊湊型測量臺包括橢圓儀光學部件，計算機控制角度計，水平樣品臺，自動準直透鏡，商用FTIR和DTGS或MCT探測器。FTIR在400 cm-1 ～6,000 cm-1 (1.7 μm – 25 μm)光譜范圍內提供了極好的精度和分辨率。

光譜橢偏儀SENDIRA主要用于薄層的振動光譜分析。應用范圍從介質膜、TCO、半導體膜到有機膜層。SENDIRA是由SpectraRay/4 軟件操作，另外還提供了FTIR軟件。

SE 900-50 紅外光譜橢偏儀替代型號

Basics The ellipsometer measures in reflection mode the optical response of a sample using polarized light.
The sample properties change the polarization state of the reflected light. Amplitude ratio and phase difference of the Fresnel reflection coefficients rpand rsare used to investigate material composition, molecule orientation, film thickness and optical constants of single films and layer stacks.

Benefits of SENDIRA IR spectroscopic ellipsometer
Measures two parameters: amplitude ratio and phase differences
Sensitive to mono layers and molecule orientation
Easy sample preparation, no reference sample required
Combines SE with R and T measurements
Large sample analysis, mapping capabilities

Key features
?Wavelength range: 400 cm-1-6000 cm-1
?Separate ellipsometer optics, ellipsometer uses external port of FT-IR instrument
?Complete accessible FT-IR spectrometer
?Large samples, maximal sample size 200 mm diameter, maximal sample height 8 mm
?Ellipsometric, transmission and reflection measurements with polarized light
?Variable incident angle of light (VASE)
?SENTECH comprehensive software for spectroscopic ellipsometry SpectraRay