波恩儀器銷售德國SENTECH SENpro經濟型可變入射角光譜橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀
波恩儀器銷售德國SENTECH SENpro經濟型可變入射角光譜橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀
波恩儀器銷售德國SENTECH SENpro經濟型可變入射角光譜橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀
波恩儀器銷售德國SENTECH SENpro經濟型可變入射角光譜橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀
波恩儀器銷售德國SENTECH SENpro經濟型可變入射角光譜橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀
波恩儀器銷售德國SENTECH SENpro經濟型可變入射角光譜橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀
波恩儀器銷售德國SENTECH SENpro經濟型可變入射角光譜橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀

波恩儀器銷售德國SENTECH-SENpro經濟型可變入射角光譜橢偏儀-低成本的光譜橢偏儀

價格

訂貨量(套)

￥850000.00

≥1

聯系人 李經理 經理

掃一掃添加商家

䀋䀔䀒䀍䀋䀑䀋䀋䀎䀋䀔

發貨地 北京市昌平區
進入商鋪
掃碼查看

掃碼查看

手機掃碼 快速查看

在線客服

商品參數
|
商品介紹
|
聯系方式
品牌 SENTECH
是否進口 是
用途 SENTECH
主要用途 測量單層膜或多層膜的膜厚、折射率和消光系數
產品尺寸 測量單層膜或多層膜的膜厚、折射率和消光系數
產地 德國
質保 一年
型號 SENpro經濟型
商品介紹

波恩儀器銷售德國SENTECH SENpro經濟型可變入射角光譜橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀



成本效益

SENpro是具成本效益的光譜橢偏儀，同時不影響先進測量性能。

可變入射角

光譜橢偏儀SENpro包括可變入射角的角度計，40°—90°，步進值5°，用于優化橢偏測量。

步進掃描分析器

SENpro具有獨特的步進掃描分析器。在數據采集過程中，偏振器和補償器固定，以提供高的橢偏測量精度。

光譜橢偏儀SENpro具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數據進行組合分析等特點。光譜范圍為370到1050 nm。SENpro的光譜范圍與精密的SpectraRay/4軟件相結合，可以輕易地確定單層膜和復合層疊膜的厚度和折射率。

具有成本效益的桌面式SENpro包括可見光到近紅外橢偏儀光學，5°步進角度計，樣品臺、激光準直器、光纖耦合穩定光源和探測器單元。SENpro配備了用于系統控制和數據分析的光譜橢偏儀軟件SpectraRay/4 ，用于包括建模，擬合和報告輸出。即使對于初學者，該程序文件操作都非常容易。SpectraRay/4 支持計算機控制的用于均勻性測量的自動掃描。

SENpro專注于薄膜測量的速度和精度，不管是何種薄膜應用。測量范圍從1 nm的薄層膜到15 μm的厚層膜。

對于各種各樣的應用，SpectraRay/4都提供了預定義的配方。

Manual goniometer with 5° stepsComplete set: SENpro spectroscopic ellipsometer with controller and laptopSpectroscopic ellipsometer SENpro for easy handling

SENpro 是全新的經濟型光譜橢偏儀的代表, 操作簡易, 多角度或單角度入射快速測量并分析數據。 SENpro可測量單層膜或多層膜的膜厚、折射率和消光系數。也能夠測量各角度入射反射光譜和透射光譜，并同橢偏測量數據結合分析。使用補償器，可自動糾正非理想薄膜導致的退偏效應。

SENpro 帶有光譜橢偏儀分析軟件 SpectraRay LT，可對系統硬件控制和數據分析， 如測量數據、建模、擬合和輸出結果。

主要應用:

1，測量透明薄膜的厚度和折射率（厚度范圍0.1 nm - 10,000 nm），可工作于透明或吸收基底。 

2，測量多層膜 

3，分析非晶硅、多晶硅薄膜和SOI膜

4，測量光刻膠的光學常數

5，分析有機薄膜

6，測量各向異性材料和薄膜

選項:
手動或自動地貌圖掃描樣品臺 (50 mm x 50 mm ... 200 mm x 200 mm)
SpectrRay – SENTECH 高端光譜橢偏儀分析軟件 PC
技術指標:
光譜范圍:
380 nm - 1050 nm
入射角:
40o - 90o, 5° 步進值
樣品厚度:
< 8 mm
樣品直徑:
最大 200 mm
光斑直徑:
2 mm

聯系方式
公司名稱 北京波恩儀器儀表測控技術有限公司
聯系賣家 李經理 （QQ：2019288892）
電話 䀍䀋䀍-䀔䀐䀌䀍䀒䀏䀍䀐
手機 䀋䀔䀒䀍䀋䀑䀋䀋䀎䀋䀔
傳真 䀍䀋䀍-䀒䀑䀒䀐䀐䀍䀒䀋
地址 北京市昌平區
聯系二維碼