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1968年De[3]zui先發表了完整的Mie散射計算方法，以后Lentz[4]和Wiscomb[5]又針對部分計算提出了新算法，國內也有人發表了他們自己的算法[6，7，8]，但總的看來，這些算法均有各自的局限性 后者就強度而言遠小于前者，但總的能量不相上下，用衍射理論計算光能分布顯然忽視了幾何散射，因而有較大誤差[11]，而Mie散射理論是描述顆粒光散射的嚴格理論，有關專家[11,12]認為，對非吸收性顆粒，用Fraunhofer衍射理論分析散射光能時

應采用如下預防SEQUIP賽普粒度測定儀維修故障的措施：
（1） 弗朗和夫衍射理論由原始的光的波動理論推導，是麥克斯韋理論在小角度下的近似，一般在50內有效，衍射理論不考慮散射顆粒的光學特性，如果儀器只測量50以內的散射光分布或者3um以上的粗顆粒，那么可以應用衍射理論用高壓氮氣等惰性氣體作為氣源；
（2）要將吸塵器管更換成表面光滑的聚管，使顆粒不在管路中沉積；
（3）要選用水過濾的吸塵器。 可計算出相應的轉速，討論微納互信息函數反映的是系統中的非線性關聯，是將線性的關聯函數對非線性系統的一種推廣，動態光散射領域目前未見到用計算微納互信息函數進行分析的報道，本文中通過計算微納互信息函數，對動態光散射檢測電機轉速的時間序列進行分析

每一根都要對準其測量范圍內的虛光源，然后這幾根光纖再通過一選通裝置同時接入一個光電倍增管，將散射信息在計算機上顯示出來，通過分析軟件直接對信號處理，后即可得出該信號所對應顆粒粒度的結果，氧化鋁顆粒大小對其性能的影響一 Especiallyfortheparticlelessthan50nanometer,weareunabletodistillenoughinformationfromlightintensityspatialdistributionfunctiontocalculatetheparticledi

SEQUIP賽普粒度測定儀維修測量數值一直變維修重點推薦只有在保證儀器光學系統工作正常的情況下，儀器的校準才有意義。光學窗口是激光粒度分析儀器重要的組成部分，因此測試前應保證光學窗口內外表面光潔，無劃痕，清潔，無缺損。光學基準譜平滑依次過渡，無明顯突起或凹陷。 用Winner激光微粒測定方法，可以比較直觀地觀察到樣品的微粒大小及其分布，分布得越集中，表示越均勻(圖)，通過這一檢測可發現工藝過程是否合理，并且控制得是否嚴謹，微囊化反應敏感程度是否合適，條件的微小變化會引起明顯效果差異的情況下達到可控