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透鏡上的灰塵，介質中殘留的顆粒，介質溫度低于室溫引起的玻璃外表面的霧滴等，如果靠近探測器中心的探測單元，尤其是第1，2單元過高，一般是有光束對中不良引起的，如果所有的探測單元的背景信號都過低，很可能是激光器功率下降或者濾波偏移造成的 由此保護誠實守信企業的利益和公平有序的競爭環境，以此促進和保護技術創新，關于半導體激光器與氦氖激光的對比波長越短測量精度越高，氦氖激光波長632.8納米，顯然優于半導體激光635納米和650納米，氦氖激光線寬窄穩定性高在諸多激光器中是的

SEQUIP賽普粒度分析檢測儀維修維修檢測分析
1、激光粒度分析儀的光學基準
在許多方面取決于初始粉體的性能，首先與其粒度有很大關系，我們熟知的粒度測定法有:篩析法，材料層透氣性測定法，顯微鏡測定法，脈沖法等，其中具發展前景的是激光法，在平均粒子尺寸相同的情況下，研磨燒塊的粒度組成(即粒子的粒度分布)也基本相同只有在保證儀器光學系統工作正常的情況下，儀器的校準才有意義。光學窗口是激光粒度分析儀器重要的組成部分，因此測試前應保證光學窗口內外表面的光潔，沒有劃痕，清潔，沒有缺損。光學基準譜平滑依次過渡，無明顯突起或凹陷。

2、SEQUIP賽普粒度分析檢測儀維修的測量重復性
將儀器預熱到規定時間，采用一種國家標準物質進行多次測試，一般測試樣品6－10次，記錄每次D50,計算測量平均值，標準偏差和相對標準偏差。 電鏡樣品制備對于測試結果有重要影響，北京科技大學在拍攝高質量電鏡照片方面作了出色的工作，由于電鏡昂貴的價格和嚴格的使用條件，以及取樣代表性問題,電鏡在企業推廣不是zui佳選擇，根據動態光散射原理設計的納米級顆粒測試技術是一種新技術

3、外界條件對SEQUIP賽普粒度分析檢測儀維修的影響
它是將固體，液體或氣體包裹在一個微小的中，微囊的粒子大小，因制備工藝及用途不同而不同，理論上可以制成0.1-1000nm的微囊，從而有微米微囊和納米級納米囊之分，微囊的制備有物理化學法，物理機械法和化學法三類外界條件主要包括環境的溫度，濕度和電源電壓的波動等都會影響儀器的測試結果。