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MettlerToledo粒徑測(cè)試儀維修濃度沒(méi)有零點(diǎn)維修仔細(xì)了解凌科自動(dòng)化是一家粒度分析儀維修公司，公司創(chuàng)立四年多，已與超過(guò)15000家渠道合作伙伴建立了緊密的合作關(guān)系，業(yè)務(wù)遍布全國(guó)各地，戰(zhàn)果累累，已成為區(qū)域品牌標(biāo)桿！

因此折射率是米氏計(jì)算一項(xiàng)不可缺少的參數(shù)，通常在軟件設(shè)計(jì)中要計(jì)算幾種折射率不同的模型來(lái)適用于不同物質(zhì)的顆粒，因此折射率產(chǎn)生于測(cè)試之前，而不是顆粒粒度測(cè)量的結(jié)果，因此使用粒度儀測(cè)試，首先需要確定樣品的折射率 測(cè)試，沖洗等一系列操作過(guò)程便可自動(dòng)完成，并得出準(zhǔn)確，可靠的測(cè)試結(jié)果，另外，利用三維對(duì)中系統(tǒng)調(diào)節(jié)光電探測(cè)器，在避免人工調(diào)試所帶來(lái)的繁瑣的同時(shí)，對(duì)整個(gè)光路系統(tǒng)可隨時(shí)校準(zhǔn)，保證其準(zhǔn)確對(duì)中，從而對(duì)測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性提供了有力的保障,有效的分散循環(huán)系統(tǒng):在配有常規(guī)的超聲和攪拌分散裝置外

MettlerToledo粒徑測(cè)試儀維修維修檢測(cè)分析
1、激光粒度分析儀的光學(xué)基準(zhǔn)
在轉(zhuǎn)動(dòng)的過(guò)程中，從其上面散射的光就會(huì)呈現(xiàn)周期性，我們首先用探測(cè)器來(lái)接收這些散射光，得到散射光的時(shí)間序列,其次編制出計(jì)算微納互信息的程序，計(jì)算出給定延遲時(shí)間T值下的微納互信息值I(T)，得出微納互信息函數(shù)曲線,zui后利用微納互信息函數(shù)曲線只有在保證儀器光學(xué)系統(tǒng)工作正常的情況下，儀器的校準(zhǔn)才有意義。光學(xué)窗口是激光粒度分析儀器重要的組成部分，因此測(cè)試前應(yīng)保證光學(xué)窗口內(nèi)外表面的光潔，沒(méi)有劃痕，清潔，沒(méi)有缺損。光學(xué)基準(zhǔn)譜平滑依次過(guò)渡，無(wú)明顯突起或凹陷。

2、MettlerToledo粒徑測(cè)試儀維修的測(cè)量重復(fù)性
將儀器預(yù)熱到規(guī)定時(shí)間，采用一種國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行多次測(cè)試，一般測(cè)試樣品6－10次，記錄每次D50,計(jì)算測(cè)量平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。 操作簡(jiǎn)便，拍攝與分析速度快，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可干法也可濕法，可測(cè)量大顆粒，可進(jìn)行圓形度，長(zhǎng)徑比等形貌分析，缺點(diǎn):分析細(xì)顆粒(如-2μm)圖像不清晰，誤差較大，成本較高，(3)靜態(tài)圖像法:由顯微鏡

3、外界條件對(duì)MettlerToledo粒徑測(cè)試儀維修的影響
1908;4(25):3773VandeHulstHC，LightScatteringbySmallParticles，NewYork:Wiley，1957:(2-5,103)4KerkerM，TheScatteringofLightandOtherElectromagneticRadiation外界條件主要包括環(huán)境的溫度，濕度和電源電壓的波動(dòng)等都會(huì)影響儀器的測(cè)試結(jié)果。